鍍層測(cè)厚儀是一種經(jīng)濟(jì)實(shí)用型便攜式測(cè)量?jī)x，能快速、無(wú)損傷、精密地進(jìn)行涂、鍍層厚度的測(cè)量，既可用于實(shí)驗(yàn)室，也可用于工程現(xiàn)場(chǎng)，廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域，是材料保護(hù)專(zhuān)業(yè)的儀器。

鍍層測(cè)厚儀是將X射線照射在樣品上，通過(guò)從樣品上反射出來(lái)的**次X射線的強(qiáng)度來(lái)。測(cè)量鍍層等金屬薄膜的厚度，因?yàn)闆](méi)有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線只有45-75W左右，所以不會(huì)對(duì)樣品造成損壞。同時(shí)，測(cè)量的也可以在10秒到幾分鐘內(nèi)完成。

F代表ferrous 鐵磁性基體，
F型的涂層測(cè)厚儀采用電磁感應(yīng)原理， 來(lái)測(cè)量鋼、鐵等鐵磁質(zhì)金屬基體上的非鐵磁性涂層、鍍層，例如：漆、粉末、塑料、橡膠、合成材料、磷化層、鉻、鋅、鉛、鋁、錫、鎘、瓷、琺瑯、氧化層等。 　　
N代表Non- ferrous非鐵磁性基體，N型的涂層測(cè)厚儀采用電渦流原理；來(lái)測(cè)量用渦流傳感器測(cè)量銅、鋁、鋅、錫等基體上的琺瑯、橡膠、油漆、塑料層等。



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